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高分子|和歌山県工業技術センター

保有機器

保有機器一覧

高分子

機器名 型式 分類
マイクロスコープ VHX-1000 顕微鏡
熱分析システム EXSTAR7000シリーズ 機器分析装置
分子動力学計算システム J-OCTA CAD・CAE・計算化学
量子化学計算システム Spartan' 16 CAD・CAE・計算化学
非接触三次元変位変形計測システム ARAMIS 6M Professional Line 精密測定装置
超伝導核磁気共鳴装置 AVANCE  Ⅲ HD 400 機器分析装置
集束イオンビーム加工観察システム 集束イオンビーム装置:Quanta 200i 3D イオンミリング装置:IB-19500CP その他
産業用X線CT TOSCANER-24500twin 材料試験機
キセノンアーク耐光試験機 SX-75 環境試験・測定装置
分光老化試験機 多波長照射分光器MM-3KA 環境試験・測定装置
X線回折装置 Smart Lab 機器分析装置
大型環境試験機 (2畳) TBE-2EW6P2T 環境試験・測定装置
大型環境試験機 (3畳) TBE-3EW6P2T 環境試験・測定装置
フェイズドアレイ超音波探傷装置 OMNI2-P2-PA32128 物理測定装置
水蒸気透過率測定装置 PERMATRAN-W 3/33MG+ 機器分析装置
熱画像計測装置 FLIR T640 物理測定装置
インクジェット3Dプリンター Objet260 Connex 試作加工機
振動試験機 F-16000BDH/LA16AW 環境試験・測定装置
疲労試験機 EHF-EV101k1-A20-0B 材料試験機
熱物性測定装置 KES-F7 サーモラボIIB 材料試験機
光沢計 GM-268Plus 物理測定装置
粘弾性測定装置 DMA Q800/DHR-2 物理測定装置
レーザー顕微鏡 OLS4000-SAT 顕微鏡
紫外線可視近赤外分光光度計 UV-3600 機器分析装置
電気化学測定装置 HZ-7000、SP-240 物理測定装置
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-800HS 機器分析装置
分光測色計 CM-3700d 物理測定装置
光造形装置 NRM-6000 試作加工機
フルカラー3Dプリンタ ZPrinter450 試作加工機
圧力分散性測定装置 BPMSシステム 物理測定装置
キセノンウエザオメーター SX-75 環境試験・測定装置
環境試験室 TBE-2HW6P4C 環境試験・測定装置
昇華精製装置 P-100 MARKⅢ 試作加工機
表面観察装置 VC3000 顕微鏡
蛍光分光光度計 FP-6500 機器分析装置
フーリエ変換赤外分光光度計 IRPrestige-21 機器分析装置
粒度分布測定装置 SALD-3100 物理測定装置
超臨界装置 試作加工機
蛍光X線分析装置 ZSX100e 機器分析装置
紫外可視分光光度計 UV-2550 機器分析装置
光スペクトラムアナライザ Q8347 電気試験・測定器
大気圧放電加工処理装置 H11年式 試作加工機
接触角測定装置 CA-X型 物理測定装置
摩擦帯電圧測定装置 E.S.T-7型 材料試験機
軟X線検査装置 SV-100AW 物理測定装置
走査型レーザー顕微鏡 1LM21W 顕微鏡
混練押出機 TEX30XSST-315AW-2V 試作加工機
万能材料測定装置 100KNロープ 材料試験機
金属万能材料試験機 RUE-50G 材料試験機
精密万能投影機 PJ500L 精密測定装置
機械的特性評価装置 オートグラフAG-100KND(W) 材料試験機
塩乾湿複合サイクル試験機 150-3-CY・R 環境試験・測定装置
旋光度計 SEPA200 機器分析装置
真円度測定機 ロンコム5A-03 精密測定装置
万能材料試験機 RU-100/TK-12C 材料試験機

保有機器

  • ジャンル
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  • バナー(JKA)
  • KEIRIN.JP
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