2026年度公益財団法人JKA補助事業
公設工業試験研究所における機械設備拡充(補助金資源:競輪)により下記の装置を導入しました。

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装置名

波長分散型蛍光X線分析装置 ZSX PrimusⅣ(株式会社リガク)

仕様
項目 仕様・内容
X線管 Rh、4 kW
照射方式 上面照射
分光方式 波長分散型
測定元素 4Be~92U (※実用分析範囲:9F~92U)
最大試料寸法 φ52 mm × 高さ30 mm
分析径 φ0.5~35 mm
主な機能 元素の定性・定量分析
試料画像の撮影および指定位置・領域の元素分析
特徴

試料の表面にX線を照射し、発生する蛍光X線を波長ごとに分離・検出することで、元素の定性・定量分析を行う装置です。試料の切断や研磨、粉体試料の圧粉成形など、分析目的に応じた簡単な前処理で分析できることに加え、エネルギー分散型と比較して元素の識別能力に優れていることが特徴です。

用途

金属、セラミックス、樹脂、粉体といった各種材料の組成分析をはじめ、異物の付着・変色など表面の異常箇所の元素分析にも活用されています。