機器名 | エネルギー分散型X線分析装置 |
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分類 | 機器分析装置 |
型式 | JED-2300 |
メーカー | 日本電子(株) |
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製品名 | |
設置年月日 | 2005/10/06 |
仕様 | |
用途 |
本装置は、以下のような用途に使用できます。 (1) 高倍率、高分解能によるサブミクロンの微小エリアの分析を行い、新規材料開発の研究促進に利用できます。(機械業界等) (2) 機械装置構成部品の破断面のミクロ構造を詳細に調べ偏析・介在物を分析し、その原因の推測と対策に利用できます。(機械業界等) (3) 高機能な機械部品の表面処理部分や電磁材料等の元素分布等の評価・計測等に使用できます。(金属業界等) (4) 固体粉末の化成品の中間体・医 |
ジャンル | 機械 , 金属 |
その他 | この機器は、競輪の補助を受けて導入しました。 |