微小領域の分析技術
～測定原理から最新の応用分析事例まで～
和歌山県工業技術センターでは、県内企業の皆様のものづくりを支援するため、保有機器や基盤技術の充実と共に、分析技術に関する情報発信を行っています。
今回は、走査型電子顕微鏡（SEM）を用いた「微小領域の分析技術」に関する講習会を開催します。特にFE-SEM（電界放出型走査型電子顕微鏡）は、通常のSEMと比べて高倍率での観察が可能なため、研究開発から品質管理、トラブル対応などの様々な用途で活用されています。SEMの測定原理、必要となる前処理法、種々の分析事例、さらには最新の応用事例を知ることで、試料の分析結果をより具体的にイメージしていただけます。
日頃、分析業務に携わられている方から、材料の開発業務を実施されている方まで幅広い方々を対象にした講習会です。
どうぞお気軽にご参加ください。
開催日時
・令和５年１１月８日（水） １３：００～１６：００
場所
和歌山県工業技術センター（和歌山市小倉６０番地）
研究交流棟６階 テクノホール
内容
| （１） | 「最新走査型電子顕微鏡(SEM)の測定原理とその応用例」 日本電子株式会社 作田 裕介 氏 |
１３：００～１４：００ |
| （２） | 「SEMの前処理•分析技術の紹介」 日本電子株式会社 作田 裕介 氏 |
１４：００～１４：３０ |
| （３） | 「ED/WDS分析の最前線と世界初のBEXイメージングシステムによるマッピング技術」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 五十嵐 誠 氏 |
１４：４５～１５：３０ |
| （４） | 「SEMとRAMANを組み合わせた相関分析技術の概要と応用例」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社 村田 泰斗 氏 |
１５：３０～１６：００ |
参加費
・無料
参加申込み期限
令和５年１１月２日（木）まで
定員
・５０名（先着順で締切り）
参加申込み、問合せ
下記の参加申込書に必要事項をご記入の上、下記の担当者までFAX又はE-mailで御申込みください。
先端分析講習会参加申込書 微小領域の分析技術～測定原理から最新の応用分析事例まで～
（担当者）
〒649-6261 和歌山市小倉６０ TEL：073-477-1271
和歌山県工業技術センター FAX：073-477-2880
化学技術部 松本（まつもと）
e-mail：amats〔at〕wakayama-kg.jp
（〔at〕を＠に変換してください）
2023年10月12日
