先端分析講習会を開催しました｜和歌山県工業技術センター

和歌山県工業技術センターでは、県内企業の皆様のものづくりを支援するため、保有機器や基盤技術の充実と共に、分析技術に関する情報発信を行っています。今回は、走査型電子顕微鏡（SEM）を用いた「微小領域の分析技術」に関する講習会を開催しました。

日時

　令和5年11月8日（水）　13：00-16：00

場所

　和歌山県工業技術センター　研究交流棟6階テクノホール

内容　

　本講習会では、SEMの測定原理、必要となる前処理法、種々の分析事例、さらには最新の応用事例まで、詳しく紹介いただきました。

（１）	「最新走査型電子顕微鏡(SEM)の測定原理とその応用例」 　日本電子株式会社　作田 裕介　氏	１３：００～１４：００
（２）	「SEMの前処理•分析技術の紹介」 　日本電子株式会社　作田 裕介　氏	１４：００～１４：３０
（３）	「ED/WDS分析の最前線と世界初のBEXイメージングシステムによるマッピング技術」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社　五十嵐 誠　氏	１４：４５～１５：３０
（４）	「SEMとRAMANを組み合わせた相関分析技術の概要と応用例」 オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社　村田 泰斗　氏	１５：３０～１６：００

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　本講習会では、走査型電子顕微鏡、特にFE-SEM（電界放出型走査型電子顕微鏡）を用いた「微小領域の分析技術」について紹介いたしました。今回、9機関18名の方にご参加いただきました。

　また、この講習会の他にも多数のセミナーや講座を無料で開催し、企業の皆様にとって有益な情報をお知らせするとともに、技術的な支援を実施しています。参加できる人数が限られていますので、お申し込みはぜひお早めにお願いいたします。