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化学|和歌山県工業技術センター

保有機器

保有機器一覧

化学

機器名 型式 分類
マイクロスコープ VHX-1000 顕微鏡
熱分析システム EXSTAR7000シリーズ 機器分析装置
分子動力学計算システム J-OCTA CAD・CAE・計算化学
量子化学計算システム Spartan' 16 CAD・CAE・計算化学
超伝導核磁気共鳴装置 AVANCE  Ⅲ HD 400 機器分析装置
集束イオンビーム加工観察システム 集束イオンビーム装置:Quanta 200i 3D イオンミリング装置:IB-19500CP その他
キセノンアーク耐光試験機 SX-75 環境試験・測定装置
分光老化試験機 多波長照射分光器MM-3KA 環境試験・測定装置
原子吸光分析装置 ZA3000 機器分析装置
X線回折装置 Smart Lab 機器分析装置
大型環境試験機 (2畳) TBE-2EW6P2T 環境試験・測定装置
大型環境試験機 (3畳) TBE-3EW6P2T 環境試験・測定装置
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析計 GCMS-QP2010Ultra、HS-20 機器分析装置
非線形・熱流体・電磁界解析 SolidWorks(Simulation) CAD・CAE・計算化学
分光感度測定装置 CEP-2000NK 電気試験・測定器
粘弾性測定装置 DMA Q800/DHR-2 物理測定装置
レーザー顕微鏡 OLS4000-SAT 顕微鏡
紫外線可視近赤外分光光度計 UV-3600 機器分析装置
電気化学測定装置 HZ-7000、SP-240 物理測定装置
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 EDX-800HS 機器分析装置
分光測色計 CM-3700d 物理測定装置
イオンクロマトグラフ ICS-2100 機器分析装置
キセノンウエザオメーター SX-75 環境試験・測定装置
環境試験室 TBE-2HW6P4C 環境試験・測定装置
昇華精製装置 P-100 MARKⅢ 試作加工機
誘導結合プラズマ発光分析装置 ICPS-AES/ULTIMA2 機器分析装置
原子吸光分析装置 SOLAAR M6 機器分析装置
表面観察装置 VC3000 顕微鏡
蛍光分光光度計 FP-6500 機器分析装置
フーリエ変換赤外分光光度計 IRPrestige-21 機器分析装置
粒度分布測定装置 SALD-3100 物理測定装置
ケルダール式窒素蛋白質分析装置 Buchi 324/435 機器分析装置
超臨界装置 試作加工機
蛍光X線分析装置 ZSX100e 機器分析装置
紫外可視分光光度計 UV-2550 機器分析装置
光スペクトラムアナライザ Q8347 電気試験・測定器
熱分析装置 EXSTAR6000 機器分析装置
標準分銅セット YCS01-522-00 物理測定装置
接触角測定装置 CA-X型 物理測定装置
摩擦帯電圧測定装置 E.S.T-7型 材料試験機
表面張力計 CBVP-Z型 物理測定装置
軟X線検査装置 SV-100AW 物理測定装置
混練押出機 TEX30XSST-315AW-2V 試作加工機
スプレードライヤ GB-22 試作加工機
旋光度計 SEPA200 機器分析装置

保有機器

  • ジャンル
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  • バナー(JKA)
  • KEIRIN.JP
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