化学｜和歌山県工業技術センター

保有機器一覧

機器の利用等で来所される際は、事前に担当職員に連絡のうえ、ご来所いただきますようお願い申し上げます。事前の連絡がない場合、担当職員が不在等の理由により、対応させていただけない場合がございます。

化学

機器名	型式	分類
イオンクロマトグラフ	Inuvion RFIC/AQF-5000H	機器分析装置
ガスクロマトグラフ分析装置	GC-2014AF/SPL一式	機器分析装置
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析装置	JMS-Q1600GC、MS-62071STRAP	機器分析装置
酸素指数燃焼性試験機	AC3(DC追加特別仕様)	物理測定装置
高周波帯域誘電率測定装置	N5230A	電気試験・測定器
分光放射照度計	CL-500A	物理測定装置
定量的構造物性相関（機械学習）システム	機械学習QSPR（J-OCTA）	CAD・CAE・計算化学
液体クロマトグラフィー質量分析装置	ACQUITY UPLC I-Class PLUS / SQD2	機器分析装置
全有機体炭素定量装置	Sievers M9 ラボ型	機器分析装置
耐水度試験機	WP-1000K	物理測定装置
接触角測定装置	DMo-502	物理測定装置
誘導結合プラズマ発光分析装置	PlasmaQuant PQ 9000	機器分析装置
微小領域高速度撮影システム	SMZ18	顕微鏡
耐屈曲性試験機	No.197　フレキシオメーター	材料試験機
フーリエ変換赤外分光光度計	FT/IR-4700	機器分析装置
分子動力学計算システム	J-OCTA	CAD・CAE・計算化学
量子化学計算システム	SPARTAN	CAD・CAE・計算化学
超伝導核磁気共鳴装置	AVANCE　 Ⅲ　ＨＤ　400	機器分析装置
集束イオンビーム加工観察システム	集束イオンビーム装置：Quanta 3D 200i　イオンミリング装置：IB-19500CP	顕微鏡
大型環境試験機（３畳）	TBE-3EW6P2T	環境試験・測定装置
大型環境試験機（２畳）	TBE-2EW6P2T	環境試験・測定装置
キセノンアーク耐光試験機	SX-75	環境試験・測定装置
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析計	ＧＣＭＳ－ＱＰ２０１０Ｕｌｔｒａ、ＨＳ－２０	機器分析装置
分光老化試験機	多波長照射分光器MM-3KA	環境試験・測定装置
原子吸光分析装置	ZA3000	機器分析装置
非線形・熱流体・電磁界解析システム	SolidWorks(Simulation)	CAD・CAE・計算化学
X線回折装置	Smart Lab	機器分析装置
分光感度測定装置	CEP-2000NK	電気試験・測定器
粘弾性測定装置	DMA Q800/DHR-2	物理測定装置
レーザー顕微鏡	OLS4000-SAT	顕微鏡
紫外線可視近赤外分光光度計	UV-3600	機器分析装置
電気化学測定装置	HZ-7000、SP-240	物理測定装置
加熱打抜き機	SDL-200HC1	試作加工機
エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置	EDX－800HS	機器分析装置
マイクロスコープ	VHＸ-1000	顕微鏡
熱分析システム	EXSTAR7000	機器分析装置
分光測色計	CM-3700d	物理測定装置
イオンクロマトグラフ	ICS-2100	機器分析装置
キセノンウエザオメーター	SX-75	環境試験・測定装置
環境試験室	TBE-2HW6P4C	環境試験・測定装置
昇華精製装置	P-100　MARKⅢ	試作加工機
原子吸光分析装置	SOLAAR M6	機器分析装置
二軸混練押出機	KZW15TW-25MG-NH	試作加工機
表面観察装置	VC3000	顕微鏡
蛍光分光光度計	FP-6500	機器分析装置
濁度計	NDH2000	物理測定装置
フーリエ変換赤外分光光度計	IRPrestige-21	機器分析装置
粒度分布測定装置	SALD-3100	物理測定装置
ケルダール式窒素蛋白質分析装置	Buchi K-360/K-415/K-439	機器分析装置
蛍光X線分析装置	ZSX100e	機器分析装置
紫外可視分光光度計	UV-2550	機器分析装置
標準分銅セット	YCS01-522-00	物理測定装置
摩擦帯電圧測定装置	E.S.T-7型	材料試験機
表面張力計	CBVP-Z型	物理測定装置
混練押出機	TEX30XSST-315AW-2V	試作加工機
スプレードライヤ	GB-22	試作加工機